デバッギング造句

• ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様の特徴は大きく分けて２つある．
  ＩＴＲＯＮ调试界面方法的规格特征大致分为两种。
• デバッギングとは，結果から原因を求めるという本質的に時間軸に逆行する過程である．
  所谓调试，是从结果追求原因的从本质上的在时间轴上进行逆行的过程。
• 図１に，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様に準拠したデバッグ環境の構成図を示す．
  图１显示的是根据ＩＴＲＯＮ调试界面规格做成的调试环境构成图。
• ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様が標準化の対象とするＯＳサポート機能は，次のとおりである．
  ＩＴＲＯＮ调试接口规格标准化的对象，即操作系统的支持功能包括以下内容。
• ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様は上記のような特徴を持つが，ＲＩＭを作成しにくいという問題がある．
  ＩＴＲＯＮ调试界面规格具有上述特征，但是也存在建立ＲＩＭ难的问题。
• ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様は，多様なターゲットシステムに共通に適用できるインタフェース仕様とすることを目標とした．
  制定ＩＴＲＯＮ调试接口规格的目的：建立可在多种目标系统中通用的接口规格。
• デバッギングインタフェース仕様を標準化することで，この役割分担が固定されてしまうと，仕様の適用範囲は狭いものとなってしまう．
  对调试接口规格进行标准化后，这些职能分配一旦固定，那么规格的适用范围就会变小。
• デバッガにはＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様に対応したＧＮＵ　Ｄｅｂｕｇｇｅｒ（以下，ｇｄｂ）を利用している２）．
  调试程序利用的是与ＩＴＲＯＮ调试界面规格相适应的ＧＮＵ　Ｄｅｂｕｇｇｅｒ（以下称做ｇｄｂ）。
• 省メモリ実装では，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェースのブレーク時コールバック関数（ｔｉｆ　ｒｅｐ　ｂｒｋ）を利用している．
  省内存安装条件下，主要应用ＩＴＲＯＮ调试接口中断时调用的ｂａｃｋ函数（ｔｉｆ　ｒｅｐ　ｂｒｋ）。
• 図２は，ターゲット上の変数を用いた条件分岐をＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様に対応したホスト上で動作させるためのコードである．
  图２是为了在将使用目标主机上的参数的条件分歧对应在ＩＴＲＯＮ调试界面规格的主机上运行的代码。
• 図中の矢印は既存のインタフェースを，円形と横長の六角形はそれぞれＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様で定めるモジュールとインタフェースを示す．
  图中的箭头表示现有接口，圆形和六边形分别表示ＩＴＲＯＮ调试接口规格规定的模块和接口。
• この図に示すように，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様は，２つのインタフェース規約，１つのガイドライン規約，１つのモジュールによって構成されている．
  如图所示，ＩＴＲＯＮ调试接口规格包括２个接口规范，１个指导手册规范，１个模块。
• 以下４．３節と４．４節では，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様で提供される機能のうち次の２項目に関して行った適応性の評価について述べる．
  下面的４．３节和４．４节中，主要介绍ＩＴＲＯＮ调试接口规格所提供功能中的两个项目的适用性评价。
• （２）類似したコードの記述ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様では複数のＲＩＭとエージェントを利用することで，高い適応性を達成できる．
  （２）相似代码的记述在ＩＲＴＯＮ调试界面规格下可以使用复数的ＲＩＭ和代理，因此可以达到很高的适应性。
• この問題に対し，我々はクロス開発環境におけるデバッグのための新しいソフトウェアアーキテクチャを提唱し，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様を策定した．
  针对该问题，笔者提出了用于交叉开发环境调试的新软件体系，制定了ＩＴＲＯＮ调试界面规格。
• デバッグ環境としてＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様を満たすよう修正を加えたＧＮＵ　Ｄｅｂｕｇｇｅｒ（以下，ｇｄｂ）を利用している．
  关于调试环境，我们使用为了满足ＩＴＲＯＮ调试接口规格而进行修正的ＧＮＵ　Ｄｅｂｕｇｇｅｒ（以下简称ｇｄｂ）。
• 謝辞ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様は社団法人トロン協会ＩＴＲＯＮ部会ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェースワーキンググループの成果である．
  感谢ＩＴＲＯＮ调试接口规格是社团法人ｔｈｏｒｏｎ协会ＩＴＲＯＮ部会ＩＴＲＯＮ调试接口工作组的研究成果。
• 謝辞ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様は社団法人トロン協会ＩＴＲＯＮ部会ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェースワーキンググループの成果である．
  感谢ＩＴＲＯＮ调试接口规格是社团法人ｔｈｏｒｏｎ协会ＩＴＲＯＮ部会ＩＴＲＯＮ调试接口工作组的研究成果。
• 評価の目的は，ＩＴＲＯＮデバッギングインタフェース仕様に対応したデバッグツールが，仕様の範囲内で性質の異なる２つの環境へ適応できることを確認することである．
  评价的目的在于：确认ＩＴＲＯＮ调试接口规格所对应的调试工具是否在规格范围内同时适应两个不同的环境。
• このアプローチによりデバッギングインタフェースを標準化したＯＳＥＫ／ＶＤＸ　ＲｕｎＴｉｍｅ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅに関しては，５章にて述べる．
  利用这种方法，将调试接口进行标准化，有关标准化的ＯＳＥＫ／ＶＤＸ　ＲｕｎＴｉｍｅ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ，我们在第５章进行描述。