二次离子质谱仪的英文

• ion microprobe
• secondary ion mass spectrometer

• "二次"英文翻译    secondary; quadratic
• "离子质谱仪"英文翻译    ion mass-spectrometer
• "二次离子质谱" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrum
• "二次离子质谱法" 英文翻译 :    second ion mass spectrometry; secondary ion mass spectrometry (sims)
• "二次离子质谱计" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrometer (sims)
• "二次离子质谱学" 英文翻译 :    secondary ion mass spectroscopy
• "动态二次离子质谱法" 英文翻译 :    dynamic sims; dynamic standard strain device
• "二次离子质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrometry (sims)
• "二次离子质谱分析器" 英文翻译 :    secondary ion ma ectroanalyzer; secondary ion mass spectroanalyzer
• "静态二次离子质谱测定法" 英文翻译 :    static secondary ion mass spectrometry
• "静态二次离子质谱法" 英文翻译 :    static sims; static spring gravimeter
• "离子质谱仪" 英文翻译 :    ion mass spectrometer
• "二次离子谱仪" 英文翻译 :    secondary ion spectrometer; secondary ion spectroscopy
• "多离子质谱仪" 英文翻译 :    multi-ion mass spectrometer
• "捕获离子质谱仪" 英文翻译 :    trapped-ion mass analyzer
• "次级离子质谱仪" 英文翻译 :    secondary ion mass spectrometer
• "二次离子质量分析器" 英文翻译 :    second ion mass analyzer
• "二次离子成象质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion imaging mass spectrometry
• "二次离子探针质谱测定法" 英文翻译 :    secondary ion microprobe mass spectrometry
• "二次离子" 英文翻译 :    secondary ion
• "负离子质谱" 英文翻译 :    negative ion mass spectrum; negative-ion mass spectrum
• "离子质谱" 英文翻译 :    ion mass spectrum
• "正离子质谱" 英文翻译 :    positive ion mass spectrum; positive ion mass speetrum
• "二次离子本底" 英文翻译 :    secondary ion background
• "二次离子谱法" 英文翻译 :    secondary ion spectroscopy; secondary limiting e.m.f

• The sims showed that the result of the concentration and the abundance ratio of li - 7 and li - 6 in the palladium wire were changed . it implied that the laser triggering on a pd wire with a low gas - loading ratio may have produced the nuclear process
  并通过二次离子质谱仪( sims )测出了钯丝中锂- 7和锂- 6的浓度变化和丰度比变化，说明在低充氢率的钯丝中，在小功率激光的触发下有产生核过程的可能。
• In the paper the structure and principle of the secondary ion mass spectrometry ( sims ) are reported , and its typical applications in the hgcdte material and devices processing , especially in the measurement of the junction depth and the quantity analysis of trace impurity are introduced
  摘要文章介绍了二次离子质谱仪的结构及其基本工作原理，并通过对典型应用的分析，介绍了二次离子质谱分析技术在高灵敏度碲镉汞红外焦平面探测器材料和器件制备工艺中的作用，特别是在结探监测和微量杂质监控方面所发挥的重要作用。