四探针的英文

• four point probe measurement
• four-point probe

• "四"英文翻译    four
• "探针"英文翻译    probe; sound; filling fork; ...
• "四探针测量" 英文翻译 :    four point probe measurement; four-point probe measurement
• "四探针法" 英文翻译 :    four probe method
• "四探针技术" 英文翻译 :    four point probe technique
• "四探针装置" 英文翻译 :    four-probe arrangement
• "四探极法 四探针法" 英文翻译 :    fourprobemethod
• "四探针测试仪" 英文翻译 :    four-point probe
• "四探针电阻率测试系统" 英文翻译 :    four point resistivity test system
• "探针" 英文翻译 :    probe; sound; filling fork; feeler; explorer; probing pin; touch needle; wire probe
• "四探极法" 英文翻译 :    four probe method
• "dna探针" 英文翻译 :    dna probe
• "【医学】探针。" 英文翻译 :    feeler pin
• "鼻探针" 英文翻译 :    nasal probe
• "肠探针" 英文翻译 :    intestinal probe
• "触探针" 英文翻译 :    sounding needle
• "磁探针" 英文翻译 :    magnetic probe
• "单探针" 英文翻译 :    one-probe
• "电探针" 英文翻译 :    electric probe
• "多探针" 英文翻译 :    multiprobe
• "骨探针" 英文翻译 :    bone probe
• "喉探针" 英文翻译 :    laryngeal probe
• "尖探针" 英文翻译 :    pointed probe
• "金探针" 英文翻译 :    metal probe
• "内探针" 英文翻译 :    inside probe; internal probe

• Resistivity measuring instruments with four - probe array method
  四探针电阻率测试仪
• Generic specification of four - point probe
  四探针探头通用技术条件
• The four - probe method to measure the conductivity of metal thin board
  金属薄板电导率的四探针测量法
• Four - point probe - test equipment used to test resistivity of wafers
  四探针-测量半导体晶的阻电面表片设备。
• Four - point probe - test equipment used to test resistivity of wafers
  四探针-测量半导体晶片表面电阻的设备。
• Generic specification of resistivity measuring instrument with four - point probe
  直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
• Standard test method for sheet resistance of thin metallic films with a collinear four - probe array
  用共线四探针法对金属薄膜的薄膜耐力的试验方法
• Testing of semiconductor materials ; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four - probe direct current method
  半导体材料试验:采用四探针直流法测量硅片和锗片电
• Accomplishing the development of square four point probe instrument with the function of image manipulation for testing sheet resistance automatically
  4完成具有图像识别功能的全自动四探针微区电阻率测试仪的研制。
• Testing of semiconductor materials ; measurement of the resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four probe direct current method with collinear array
  半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针直流法测