电子复合的英文

• electron recombination

• "电子"英文翻译    electron
• "复合"英文翻译    compound; complex; composite ...
• "电子 离子复合" 英文翻译 :    electron ion recombination
• "双电子复合" 英文翻译 :    dielectronic recombination
• "电子离子复合" 英文翻译 :    electron ion recombination
• "离子电子复合" 英文翻译 :    recombination of ion and electron
• "等电子复合中心" 英文翻译 :    isoelectronic recombination center
• "离子复合" 英文翻译 :    ion-ion recombination; ionic recombination
• "原子复合" 英文翻译 :    atomic recombination
• "子复合型" 英文翻译 :    subcomplex
• "子复合形" 英文翻译 :    subcomplex
• "电子复印机" 英文翻译 :    electronic copier
• "分子复合材料" 英文翻译 :    molecular composite
• "激子复合辐射" 英文翻译 :    exciton recombination radiation
• "离子复合通道" 英文翻译 :    ion recombination channel
• "离子复合系数" 英文翻译 :    coefficient of reunion of ion
• "离子离子复合" 英文翻译 :    ion-ion recombination
• "启动子复合物" 英文翻译 :    promoter complex
• "强子复合模型" 英文翻译 :    hadron composite model
• "三分子复合体" 英文翻译 :    tri molecular complex
• "电子复制文件" 英文翻译 :    xerox copy
• "高分子复合材料" 英文翻译 :    polymer based composite
• "开放启动子复合体" 英文翻译 :    open-promoter complex
• "凝血因子复合物" 英文翻译 :    prothrombin proconvertin stuart-prower factor; stuatr-prower factor
• "子复合型 部分复体" 英文翻译 :    subcomplex

• Dielectronic recombination for h - like silicon ion
  类氢硅离子双电子复合的理论研究
• Dielectronic recombination coefficients of cu - like of au50 ion
  类铜金离子的双电子复合速率系数
• Parity nonconservation in dielectronic recombination of multiply charged ions
  多电荷离子双电子复合中的宇称不守恒效应
• We define the recombination time of excess electrons in p field as the minority carrier lifetime . in theory , we developed the equation between excess minority carriers lifetime and the open - circuit voltage decay ; moreover , the effect of capacitance to general open - circuit voltage is also investigated . both different efficiency solar cells are measured by the method and showed the relations between the minority carrier lifetime and the performance of solar cells , which provides great useful guidelines for fabricating high - efficiency silicon solar cell in industry
  根据太阳电池的工作原理，详细地论述了用脉冲光源照射n / p结太阳电池时光电压的产生，理论上给出了注入p区的电子复合带来的开路电压与少子寿命的关系，也研究了n / p结势垒电容放电对开路电压衰减的影响关系，推导了利用开路电压随时间衰减的关系来测量少数载流子寿命的理论公式。