层电阻造句

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粉尘层电阻率测定方法
范德堡和条状结构埋层电阻的测试及研究
硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法
高频等参数感应测井不同于常规感应测井，它采用等参数设计，能够较详细地划分地层电阻率剖面。
以吐哈盆地及邻区实际工作为例，论述了地层电阻率野外实测和资料整理方法；分析了测区内电阻率特征。
通过电测井资料的预处理，可提供原状地层电阻率、冲洗带地层电阻率以及泥浆滤液侵入半径等3个参数。
在基岩电阻率较高的硬地层中，在去除了泥质、孔隙、高矿化度地层水和其他矿物等影响因素后，地层电阻率与致密围岩电阻率的差异就被认为是裂缝因素引起的。
正演结果表明：在全井套管供电时，地表观测电位主要受浅层电阻率不均匀性的影响；在射孔段供电时，地表观测电位主要反映射孔段的电阻率分布。
用层电阻造句挺难的，這是一个万能造句的方法
本文还利用单片机系统设计了薄层电阻测试电路，对于程序中用到的范德堡隐函数，利用非线性反演和规范化拟合的方法推导出其多项式显函数形式。这不仅给对我们编写程序提供了方便，也为使用范德堡法和rymaszewski法测量薄层电阻提供了便利。
首先介绍了制备各种样品所用的实验仪器、设备与方法；第二节中介绍了实验系统，包括氧化系统、扩散系统，第三节介绍了样品的制备，包括ga的预沉积、再分布、二次氧化样品，扩硼样品，以及扩嫁晶体管、扩硼晶体管和扩镰后再补充扩硼晶体管的制备流程；实验所得样品，借助二次离子质谱（ sims ）、扩展电阻（ srp ）、四探针薄层电阻等先进的测试分析方法进行分析。
研究得出，研究区复杂油水层主要成因一是储层孔隙结构复杂，岩性细，泥质含量高，导致储层束缚水饱和度变化大；二是泥浆侵入影响，导致油层电阻率降低；三是薄层受测井分辨能力的限制，其测量值受层厚影响。
这样，完成200mm ( 8时)圆片杂质的扩散分布需要对许多图形进行测试，需要花费很长的时间，当测试300mm硅片时问题就更为突出。本文将图象与视觉测量系统引入四探针测试系统中，对采集到的原始探针图像进行预处理、边缘提取等操作，以便实现探针针尖的识别，然后由电机控制实现探针的自动定位。这样测试系统可以自动获得全片的薄层电阻分布，为超大规模集成电路检测杂质分布和扩散的均匀性提供信息。