测试电路的英文

• test circuit
• test connection

• "测试"英文翻译    test; testing; checkout; mea ...
• "电路"英文翻译    circuit; electric circuit; e ...
• "自测试电路" 英文翻译 :    self testing circuit; self-testing circuit
• "测试电路合成" 英文翻译 :    test synthesis
• "磁心测试电路" 英文翻译 :    core testing circuit; core-testing circuit
• "调幅测试电路" 英文翻译 :    amplitude-modulation test circuit
• "塞绳测试电路" 英文翻译 :    cord test circuit
• "占线测试电路" 英文翻译 :    engaged test circuit
• "测试电路与系统" 英文翻译 :    measurement circuits and systems
• "多功能测试电路" 英文翻译 :    multi-function test circuit mtt
• "计算机测试电路" 英文翻译 :    computer test circuit
• "计算机的测试电路" 英文翻译 :    computer test circuit
• "数字逻辑测试电路" 英文翻译 :    testing digital logic circuit
• "测试电极" 英文翻译 :    test electrode
• "测试电键" 英文翻译 :    measuring key; test key
• "测试电缆" 英文翻译 :    checkout cable
• "测试电铃" 英文翻译 :    testing bell
• "测试电流" 英文翻译 :    test current
• "测试电平" 英文翻译 :    test level; testing level
• "测试电刷" 英文翻译 :    exploring brush; private wiper
• "测试电压" 英文翻译 :    test voltage; testing voltage
• "自测试电门" 英文翻译 :    self-test system
• "标准测试电文" 英文翻译 :    standardized test text
• "标准测试电压" 英文翻译 :    standard test voltage
• "测试电极装置" 英文翻译 :    electrode arrangements

• A detect circuit design of surface electromyography
  一种表面肌电信号测试电路设计
• Methods of power - factor - measurement for low - voltage inductive test circuits
  低压感应测试电路功率因数的测量方法
• Multi - function test circuit mtt
  多功能测试电路
• Computer test circuit
  计算机的测试电路
• With this hi - z probe individual test points of a circuit can be connected to the 50 impedance of a spectrum analyzer
  用高阻探头测试电路板时，探极可以连接至
• Combined with the problems during the experiment , design a improved testing circuit of direct current attenuation method
  结合试验过程中遇到的问题，给出了改进的直流衰减法测试电路。
• A multi - channel test circuit is designed for testing the programmable logic device in the common experiment circuit board
  本文还设计了多通道测试电路实现对通用的被测实验电路板中的可编程器件的测试工作。
• This paper aims at designing a relaxation oscillator which is used in the readout circuits for silicon capacitive accelerometers with cmos process
  采用cmos工艺设计出应用在微硅电容加速度传感器单片测试电路中的弛张振荡器即是本文的主要研究目的。
• In chapter 3 , the design considerations and fabrication process of the saw sensor chip are given , while the design of the measurement circuit is presented in chapter 4
  第三章介绍了saw传感器芯片的设计和工艺流程。测试电路的设计放在第四章中介绍。
• Abstract : by analyzing several on - line measuring methods and gaps between workpieces , the cathode structure , measuring circuit and fuzzy control system were designed
  文摘:通过对几种在线检测方法和加工对象间隙变化范围的分析，设计了阴极、测试电路、模糊控制系统。

• 测试电路的日语：テスト回路 テストかいろ しけんかいろ